ГОСТ (Государственный стандарт) - одна из основных категорий стандартов в России.
Каталог ГОСТов

Каталог ГОСТов

gostbase.ru

Общероссийский Классификатор Стандартов

31.200 - Интегральные схемы. Микроэлектроника


Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры

ГОСТы

Код Наименование
17021-88 Микросхемы интегральные. Термины и определения
Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий интегральных микросхем. Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу деятельности по стандартизации или использующих результаты этой деятельности
17230-71 Микросхемы интегральные. Ряд питающих напряжений
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы, работающие при номинальных значениях питающих напряжений до 200 В, и устанавливает номинальн?е значения питающих напряжений, а также допускаемые отклонения питающих напряжений от номинальных значений.
Стандарт не распространяется на интегральные микросхемы, работающие в широком диапазоне питающих напряжений (охватывающих 2 или более номинальных напряжений)
17447-72 Микросхемы интегральные для цифровых вычислительных машин и устройств дискретной автоматики. Основные параметры
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые интегральные микросхемы первой и второй степеней интеграции для цифровых вычислительных машин, устройств дискретной радиоэлектронной аппаратуры и автоматики и устанавливает ряд и допускаемые сочетания значений основных параметров
17467-88 Микросхемы интегральные. Основные размеры
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы в корпусах и устанавливает их габаритные и присоединительные размеры.
Стандарт не распространяется на микросхемы СВЧ диапазона
18683.0-83 Микросхемы интегральные цифровые. Общие требования при измерении электрических параметров
Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы (микросхемы) и устанавливает общие требования при измерении электрических параметров микросхем.
18683.1-83 Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статистических электрических параметров
Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы и устанавливает методы измерения статических электрических параметров микросхем
18683.2-83 Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров
Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы и устанавливает методы измерения динамических электрических параметров микросхем
18725-83 Микросхемы интегральные. Общие технические условия
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы производственно-технического назначения и народного потребления, изготовляемые для народного хозяйства и экспорта, используемые в электронной аппаратуре в качестве элементов монтажа.
Стандарт не распространяется на бескорпусные микросхемы
19480-89 Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров
Настоящий стандарт устанавливает термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров интегральных микросхем.
Термины и буквенные обозначения, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу работ по стандартизации или использующих результаты этих работ.
Международные буквенные обозначения обязательны для применения в технической документации, предназначенной для экспортных поставок
19799-74 Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает методы измерения электрических параметров и определения характеристик. Стандарт не распространяется на коммутаторы и ключи, на компараторы напряжения в части методов 1580, 1581, 2500, 2501 и операционные усилители
20281-74 Микромодули этажерочной конструкции. Методы измерения электрических параметров
Настоящий стандарт распространяется на микромодули этажерочной конструкции и устанавливает методы измерения электрических параметров микромодулей.
Настоящий стандарт не распространяется на микромодули, представляющие собой сборки микроэлементов и имеющие электрические параметры, свойственные микроэлементам
23070-78 Анализ и оптимизация на ЭВМ радиоэлектронных схем. Термины и определения
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области автоматизированного проектирования электронных схем
23089.0-78 Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров
23089.1-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента усиления операционных усилителей и компараторов напряжения
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает метод измерения коэффициента усиления
23089.10-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения
23089.11-83 Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабление синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители (ОУ) и компараторы напряжения (КН) и устанавливает методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений:
1 - метод с подачей синфазных входных напряжений на входы проверяемого ОУ или КН через резистивный мост;
2 - метод с подачей синфазных входных напряжений посредством изменения напряжения питания
23089.12-86 Микросхемы интегральные. Методы измерения шумовых параметров операционных усилителей
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения:
нормированной э.д.с. шума и нормированного тока шума;
рахмаха шума
23089.13-86 Микросхемы интегральные. Методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления:
метод 1 - измерение частоты среза с плавным изменением частоты входного сигнала; метод 2 - измерение частоты единичного усиления на фиксированной частоте
23089.14-88 Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения
Настоящий стандарт распространяется на компараторы напряжения (КН) с двухполярным питанием и устанавливает два метода измерения времени задержки включения и выключения;
метод 1 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, отличном от 0 В. Метод рекомендуется применять в качестве основного для измерения параметров КН с временем задержки, превышающим или равным 20 нс;
метод 2 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, равном 0 В. Метод рекомендуется применять для измерения параметров КН с временем задержки, не превышающим 20 нс и в технически обоснованных случаях для остальных КН
23089.15-90 Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителей
Настоящий стандарт устанавливает метод измерения частоты полной мощности опереционных усилителей
23089.16-90 Микросхемы интегральные. Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей
Настоящий стандарт устанавливает метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей
23089.17-90 Микросхемы интегральные. Методы измерения входного и выходного сопротивлений операционных усилителей
Настоящий стандарт устанавливает методы измерения входного (дифференциального) сопротивления и выходного сопротивления операционных усилителей
23089.2-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителей
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения максимального выходного напряжения
23089.3-83 Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и э.д.с cмещения нуля опреционных усилителей и компараторов напряжения
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает два метода измерения напряжения смещения нуля Uсм и э.д.с. смещения нуля Eсм:
метод 1 - метод балансировки вспомогательным устройством;
метод 2 - метод с приведением напряжения на инвертирующем входе и нулю
23089.4-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения входных токов и разности входных токов операционных усилителей и компараторов напряжения
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает метод измерения входных токов, среднего входного тока и разности входных токов
23089.5-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилителей и компараторов напряжения
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает метод измерения тока потребления и потребляемой мощности
23089.6-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителей
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения времени установления выходного напряжения
23089.7-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля
23089.8-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с
23089.9-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов
23622-79 Элементы логические интегральных микросхем. Основные параметры
Настоящий стандарт распространяется на логические элементы интегральных микросхем, предназначенные для цифровых вычислительных машин, устройств дискретной автоматики, и устанавливает допустимые сочетания значений среднего времени задержки распространения сигнала и средней потребляемой мощности в статическом режиме
24459-80 Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств: оперативные запоминающие устройства; ассоциативные запоминающие устройства; запоминающие устройства на приборах с зарядной связью и цилиндрических магнитных доменах; постоянные запоминающие устройства с многократным электрическим программированием; усилители воспроизведения; формирователи разрядного и адресного токов
24460-80 Микросхемы интегральные цифровых устройств. Основные параметры
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы цифровых устройств: регистры, счетчики (делители частоты), дешифраторы, шифраторы, сумматоры, полусумматоры, арифметическо-логические устройства, а также усилители индикации и схемы сопряжения с магистралью и устанавливает ряды и допускаемые сочетания значений основных электрических параметров для различных схемно-технологических вариантов изготовления при нормальных климатических условиях
24613.0-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары.
Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения электрических параметров оптоэлектронных интегральных микросхем и оптопар и устанавливает общие положения для стандартов этого комплекса
24613.1-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения проходной емкости
24613.10-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней
24613.11-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней
24613.12-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней
24613.13-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного тока короткого замыкания
24613.14-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения
24613.15-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления, переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока потребления переключения и длительности тока потребления переключения
24613.16-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов
Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения начального остаточного напряжения
24613.17-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов
Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения выходного дифференциального сопротивления
24613.18-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции
Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения сопротивления изоляции
24613.19-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения коэффициента передачи тока
24613.2-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы оптопары и устанавливает метод измерения тока утечки
24613.3-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения выходного напряжения
24613.4-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения времени включения и выключения
24613.5-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения
24613.6-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения напряжения изоляции (постоянного или импульсного)
24613.7-83 Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивления
Настоящий стандарт распространяется на резисторные оптопары и устанавливает метод измерения светового и темнового выходного сопротивления
24613.8-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора
24613.9-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения.
Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары
26949-86 Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения
Настоящий стандарт распространяется на непрерывные стабилизаторы напряжения и устанавливает методы измерения электрических параметров:
нестабильности по напряжению;
нестабильности по току;
коэффициента сглаживания пульсаций;
температурного коэффициента напряжения;
дрейфа выходного напряжения
26975-86 Микросборки. Термины и определения
Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области разработки, применения и изготовления микросборок.
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу действия стандартизации или использующих результаты этой деятельности
27694-88 Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров
Настоящий стандарт распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров
27780-88 Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров
Настоящий стандарт распространяется на микросхемы класса коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров микросхем
28111-89 Микросборки на цилиндрических магнитных доменах. Термины и определения
Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области микросборок на цилиндрических магнитных доменах
28623-90 Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем
28814-90 Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
Настоящий стандарт распространяется на схемы управления импульсными стабилизаторами напряжения (СУ ИСН) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров СУ ИСН: время нарастания импульса коммутируемого тока время спада импульса коммутируемого тока
29106-91 Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения
Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-1-84 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 1. Общие положения“и полностью ему соответствуют
29107-91 Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемы
Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. Стандарт устанавливает требования для следующих классов и подклассов приборов: комбинаторные и последовательностные цифровые схемы; интегральные схемы запоминающих устройств; интегральные схемы микропроцессоров; приборы с переносом заряда.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-2-85 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2. Цифровые интегральные схемы“и полностью ему соответствует
29108-91 Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 3. Аналоговые интегральные схемы
Настоящий стандарт устанавливает требования для следующих подклассов аналоговых интегральных схем:
операционных усилителей (с двумя входами и одним выходом);
усилителей низкой частоты, видеоусилителей и многоканальных усилителей для дальней связи;
усилителей высокой частоты и усилителей промежуточной частоты;
стабилизаторов напряжения и тока;
схем переключения аналоговых сигналов.
Данный стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации
29109-91 Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы
Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. В стандарте приведены требования для следующих классов и подклассов интерфейсных интегральных схем. Класс I: подкласс А - линейные схемы (передатчики и приемники); подкласс В - усилители считывания; подкласс С - периферийные формирователи (включая формирователи ЗУ) и схемы сдвига уровня; подкласс D - компараторы напряжения. Класс II линейные и нелинейные аналого-цифровые и цифроаналоговые преобразователи.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-4-87 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы“и полностью ему соответствует
30350-96 Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров
Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает общие требования к условиям измерения электрических параметров, а также требования безопасности к измерительной аппаратуре
4.465-87 Система показателей качества продукции. Микросхемы интегральные. Номенклатура показателей
Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества интегральных микросхем, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив развития этой группы, государственный стандарт с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ)
50044-92 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы (ИС) и полупроводниковые приборы (ПП), предназначенные для использования в технологии поверхностного монтажа, и устанавливает требования к их перспективным конструкциям и выбору унифицированных размеров.
Стандарт является обязательным документом при разработке изделий для поверхностного монтажа, обеспечивающих выполнение требований автоматизированной сборки аппаратуры
54843-2011 Изделия микросистемной техники. Элементы чувствительные микроэлектромеханических преобразователей физических величин. Общие технические условия
54844-2011 Микросхемы интегральные. Основные размеры
55893-2013 Микросхемы интегральные. Основные параметры
748-11-1-2001 Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов
Статистика:
Стандартов: 30976
    из них:
  действующих: 25918

НПБ: 137

СНиПов: в разработке

Обновление:
17.03.2014
Обновлены ГОСТы 02.2014 включительно