ГОСТ (Государственный стандарт) - одна из основных категорий стандартов в России.
Каталог ГОСТов
gostbase.ru
Общероссийский Классификатор Стандартов
- 31 Электроника;
31.260 - Оптоэлектроника. Лазерное оборудование
Включая фотоэлементы
ГОСТы
| Код | Наименование |
|---|---|
| 11612.0-81 |
Фотоумножители. Общие требования при измерении электрических и светотехнических параметров Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает общие требования при проведении измерений |
| 11612.1-81 |
Фотоумножители. Метод измерения световой чувствительности фотокатода Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает метод измерения световой чувствительности фотокатода |
| 11612.10-84 |
Фотоумножители. Метод определения нелинейности световой характеристики в импульсном режиме Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает метод косвенного определения нелинейности световой характеристики в импульсном режиме |
| 11612.11-85 |
Фотоумножители. Метод измерения нестабильности Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает метод косвенного измерения нестабильности |
| 11612.12-84 |
Фотоумножители. Метод измерения энергетического эквивалента собственных шумов Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает метод измерения энергетического эквивалента собственных шумов |
| 11612.13-85 |
Фотоумножители. Метод измерения времени нарастания и длительности импульсной характеристики Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает метод прямого измерения времени нарастания и длительности импульсной характеристики |
| 11612.14-75 |
Фотоумножители. Метод измерения изменения времени прохождения сигнала в зависимости от положения освещенного участка фотокатода Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов более одного и устанавливает метод косвенного измерения изменения времени прохождения сигнала в зависимости от положения освещенного участка фотокатода |
| 11612.15-75 |
Фотоумножители. Метод измерения времени готовности Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов более одного и устанавливает метод прямого измерения времени готовности |
| 11612.16-75 |
Фотоумножители. Метод измерения напряжения запирания Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов более одного и устанавливает метод прямого измерения напряжения запирания |
| 11612.17-81 |
Фотоумножители. Методы измерения спектральной анодной чувствительности Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектронные умножители (далее - ФУЭ) с числом каскадов умножения более одного и устанавливает два метода измерения спектральной анодной чувствительности ФУЭ на фиксированных длинах волн в диапазоне 380-1200 нм |
| 11612.2-81 |
Фотоумножители. Методы измерения световой анодной чувствительности Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает два метода измерения световой анодной чувствительности |
| 11612.3-75 |
Умножители. Фотоэлектронный метод измерения неравномерности световой анодной чувствительности по фотокатоду Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения одного и устанавливает метод косвенного измерения неравномерности световой анодной чувствительности по фотокатоду |
| 11612.4-84 |
Фотоумножители. Метод измерения темнового тока Настоящий станд?рт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает метод измерения темнового тока |
| 11612.5-75 |
Фотоумножители. Метод измерения отношения сигнала к шуму в сигнале Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители и устанавливает метод косвенного измерения отношения сигнала к шуму в сигнале |
| 11612.6-83 |
Умножители фотоэлектронные. Методы измерения светового эквивалента шума темновог? тока анода Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектронные умножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает два метода косвенного измерения светового эквивалента шума темнового тока анода |
| 11612.7-83 |
Фотоумножители. Методы измерения светового и спектрального эквивалента шума тока анода от фонового потока Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектронные умножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает два метода косвенного измерения светового эквивалента шума тока анода от фонового светового потока |
| 11612.8-85 |
Фотоумножители. Метод измерения энергетического разрешения Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектронные умножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает метода косвенного измерения энергетического разрешения |
| 11612.9-84 |
Фотоумножители. Метод определения нелинейности световой характеристики в статическом режиме Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектронные умножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает два метода определения нелинейности световой характеристики в статическом режиме |
| 11670-2010 |
Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений параметров лазерных пучков. Стабильность положения пучка |
| 11946-78 |
Линзы и комплекты линз сигнальных приборов железнодорожного транспорта. Методы измерений силы света и фокусного расстояния Настоящий стандарт распространяется на стеклянные ступенчатые светофильтры-линзы, бесцветные ступенчатые линзы и рассеиватели, отклоняющие вставки и на комплекты из них, составляющие светооптические системы линзовых светофоров, сигнальных указателей и фонарей железнодорожного транспорта, а также светофоров автотранспорта на переездах и устанавливает методы измерений их силы света и фокусного расстояния |
| 12.1.031-2010 |
Система стандартов безопасности труда. Лазеры. Методы дозиметрического контроля лазерного излучения |
| 12.1.031-81 |
Система стандартов безопасности труда. Методы дозиметрического контроля лазерного излучения Настоящий стандарт устанавливает методы измерений параметров лазерного излучения в диапазоне длин волн от 0,2 до 20 мкм в заданной точке пространства с целью определения степени опасности излучения для организма человека. Стандарт обязателен для всех министерств и ведомств СССР, разрабатывающих и эксплуатирующих лазеры |
| 12005-2013 |
Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений параметров лазерных пучков. Поляризация |
| 12626-2006 |
Безопасность металлообрабатывающих станков. Станки для лазерной обработки Настоящий стандарт описывает опасности, которые вызываются лазерным обрабатывающим оборудованием и определяет требования безопасности по лазерному излучению и вредным веществам, выделяемым при лазерной обработке. Настоящий стандарт не распространяется на лазерные установки и устройства с использованием лазеров, применяемых в: - фотолитографии; - стереолитографии; - голографии; - медицине (по МЭК 60601-2-22); - информационных технологиях |
| 13694-2010 |
Оптика и оптические приборы. Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений распределения плотности мощности (энергии) лазерного пучка |
| 13695-2010 |
Оптика и фотоника. Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений спектральных характеристик лазеров |
| 13917-92 |
Материалы оптические. Методы определения химической устойчивости. Группы химической устойчивости Настоящий стандарт распространяется на оптическое неорганическое стекло и оптические кристаллы и устанавливает методы определения химической устойчивости, группы химической устойчивости полированной поверхности стекол к воздействию влажной атмосферы, слабокислых жидких реагентов (кислотоустойчивости), а также группы растворимости кристаллов в воде |
| 15093-90 |
Лазеры и устройства управления лазерным излучением. Термины и определения Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий лазеров и устройств управления лазерным излучением. Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу работ по стандартизации или использующих результаты этих работ |
| 15114-78 |
Системы телескопические для оптических приборов. Визуальный метод определения предела разрешения Настоящий стандарт распространяется на оптические приборы с телескопической системой и устанавливает визуальный метод определения предела разрешения по штриховым мирам абсолютного контраста |
| 15367-1-2012 |
Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений формы волнового фронта пучка лазерного излучения. Часть 1. Терминология и основные положения |
| 15367-2-2012 |
Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений формы волнового фронта пучка лазерного излучения. Часть 2. Датчики Шока-Гартмана |
| 15856-84 |
Фотоумножители. Общие технические условия Настоящий стандарт распространяется на многокаскадные фотоумножители, изготовляемые для нужд народного хозяйства и предназначенные для экспорта |
| 16208-84 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные. Общие технические условия Настоящий стандарт распространяется на газоразрядные источники высокоинтенсивного оптического излучения, создающие некогерентный поток излучения в оптическом диапазоне спектра, предназначенные для устройств производственно-технического и бытового назначения, изготовляемые для народного хозяйства и экспорта. Стандарт не распространяется на спектральные лампы, изготовляемые по ГОСТ 21195-84 |
| 16803-78 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные импульсные. Термины и определения Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий импульсных газоразрядных источников высокоинтенсивного оптического излучения |
| 17333-80 |
Приборы фотоэлектронные. Методы измерения спектральной чувствительности фотокатодов Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и фотоэлектронные умножители и устанавливает метод измерения относительной спектральной чувствительности фотокатодов и три метода измерения спектральной чувствительности фотокатодов в диапазоне длин волн 115 - 1500 нм: метод, опирающийся на относительную спектральную чувствительность; метод прямого измерения; метод измерения на отдельных длинах волн |
| 17490-77 |
Лазеры и излучатели инжекционные, диоды лазерные. Основные параметры Настоящий стандарт распространяется на инжекционные лазеры и лазерные диоды импульсного режима работы, а также на излучатели инжекционных и сверхлюминесцентных лазеров и лазерные диоды непрерывного режима работы |
| 17772-88 |
Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические полупроводниковые приемники излучения (ФЭПП) и фотоприемные устройства (ФПУ) на их основе, чувствительные к излучению в диапазоне длин волн от 0,2 до 100 мкм. Стандарт не распространяется на ФЭПП и ФПУ, подлежащие аттестации в качестве средств измерений. Стандарт устанавливает методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик |
| 19319-82 |
Лазеры твердотельные. Основные параметры Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и устанавливает ряды числовых значений основных параметров лазеров импульсного режима работы периодического и непериодического действия, а также работающих в режиме модуляции добротности при непрерывной накачке, и лазеров непрерывного режима работы |
| 19798-74 |
Фотоэлементы. Общие технические условия Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и фотоумножители, содержащие один каскад усиления, предназначенные для преобразования сигналов оптического излучения в электрические и изготавливаемые для нужд народного хозяйства и для экспорта |
| 2.746-68 |
Единая система конструкторской документации. Обозначения условные графические в схемах. Генераторы и усилители квантовые Настоящий стандарт распространяется на обозначения условные графические в схемах на генераторы и усилители квантовые |
| 21195-84 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные спектральные. Общие технические условия Настоящий стандарт распространяется на спектральные газоразрядные источники высокоинтенсивного оптического излучения, излучающие линейный спектр одного или нескольких химических элементов, либо сплошной спектр в узкой области оптического диапазона длин волн, предназначенные для спектрофотометрических устройств производственно-технического назначения, изготовляемые для народного хозяйства и экспорта |
| 21316.0-75 |
Фотоэлементы. Общие требования при измерении параметров Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает общие положения для стандартов на метод измерения следующих параметров: световой чувствительности; нестабильности; темнового тока; сопротивления изоляции; неравномерности чувствительности по фотокатоду; предела линейности световой характеристики в непрерывном режиме; предела линейности световой характеристики в импульсном режиме |
| 21316.1-75 |
Фотоэлементы. Метод измерения световой чувствительности Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения световой чувствительности фотоэлементов |
| 21316.2-75 |
Фотоэлементы. Метод измерения темнового тока Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устнавливает метод прямого измерения темнового тока |
| 21316.3-75 |
Фотоэлементы. Метод измерения сопротивления изоляции Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения сопротивления изоляции участка анод - охранное кольцо |
| 21316.4-75 |
Фотоэлементы. Метод измерения неравномерности чувствительности Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения неравномерности чувствительности |
| 21316.5-75 |
Фотоэлементы. Метод измерения нестабильности Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения нестабильности фотоэлементов при фототоках в цепи фотоэлемента от 10 в ст. минус 10 А и выше |
| 21316.6-75 |
Фотоэлементы. Метод определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в непрерывном режиме Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в непрерывном режиме |
| 21316.7-75 |
Фотоэлементы. Метод определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в импульсном режиме Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в импульсном режиме |
| 22466.0-82 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные. Общие положения при измерении электрических и световых параметров |
| 22466.1-88 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные. Метод измерения световых параметров |
| 22466.2-77 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные импульсные. Метод измерения напряжения зажигания |
| 22466.3-77 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные импульсные. Метод измерения напряжения самопробоя |
| 22466.4-82 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные непрерывного действия. Методы измерения электрических параметров Настоящий стандарт распространяется на источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные непрерывного действия и устанавливает методы измерения следующих параметров ламп: напряжения зажигания; напряжения на лампе; тока лампы |
| 23339-78 |
Переключатели оптоэлектронные логических сигналов. Основные параметры Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые оптоэлектронные переключатели логических сигналов и устанавливает ряды значений основных параметров |
| 23340-78 |
Коммутаторы оптоэлектронные аналогового сигнала. Основные параметры Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые оптоэлектронные коммутаторы аналогового сигнала и устанавливает ряд и допускаемые сочетания основных параметров |
| 23449-79 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные импульсные шаровые. Конструкция и основные размеры Настоящий стандарт распространяется на импульсные шаровые газоразрядные источники высокоинтенсивного оптического излучения и устанавливает их конструкцию и основные размеры |
| 23506-79 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные импульсные трубчатые для электронных фотовспышек. Основные размеры |
| 23547-79 |
Коммутаторы оптоэлектронные. Основные параметры Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные коммутаторы нагрузки и устанавливает значения и допускаемые сочетания значений основных параметров |
| 2388-70 |
Фотоэлементы селеновые для фотометрирования и колориметрирования пиротехнических средств. Общие технические требования Настоящий стандарт распространяется на селеновые фотоэлементы, предназначенные для фотометрирования и колориметрирования пламени пиротехнических составов. Стандарт устанавливает требования к фотоэлементам, применяемым при фотометрировании и колориметрировании светящегося пламени единичных световых вспышек с временем достижения максимума силы света не менее 0,001 с и модулированного света с частотой не более 100 Гц; при этом освещенность на фотоэлементе должна быть от 2 до 2000 лк |
| 24428-80 |
Лазеры газовые. Общие технические условия Настоящий стандарт распространяется на газовые лазеры, предназначенные для использования в качестве источника когерентного излучения в оптическом диапазоне спектра в различных устройствах производственно-технического назначения. Стандарт распространяется также на составные части лазера (за исключением активного элемента) - при самостоятельной поставке |
| 24453-80 |
Измерения параметров и характеристик лазерного излучения. Термины, определения и буквенные обозначения величин Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий и буквенные обозначения величин в области измерений параметров и характеристик лазерного излучения |
| 24458-80 |
Оптопары полупроводниковые. Основные параметры Настоящий стандарт распространяется на диодные, транзисторные и тиристорные оптопары, предназначенные для использования в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает ряды основных электрических параметров |
| 24469-80 |
Средства измерений параметров лазерного излучения. Общие технические требования Настоящий стандарт распространяется на средства измерений параметров лазерного излучения и устанавливает общие технические требования к ним. Стандарт не распространяется на: измерительные генераторы оптического излучения; преобразователи лазерного излучения, поставляемые как комплектующие изделия для средств измерений |
| 24714-81 |
Лазеры. Методы измерения параметров излучения. Общие положения Настоящий стандарт распространяется на методы измерений параметров излучения газовых, полупроводниковых, твердотельных и жидкостных лазеров импульсного и непрерывного режима работы и излучатели к ним |
| 25212-82 |
Лазеры. Методы измерения энергии импульсов излучения Настоящий стандарт устанавливает методы измерения энергии излучения лазеров, работающих в режиме однократного импульса, серии импульсов и периодической последовательности импульсов (частотном): - метод прямых измерений; - метод измерения с использованием ослабителя; - метод измерения с использованием измерителя средней мощности; - метод измерения с использованием формирователя серии импульсов |
| 25213-82 |
Лазеры. Методы измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения Настоящий стандарт устанавливает два метода измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения лазеров, работающих в режиме однократного импульса. серии импульсов и периодической последовательности импульсов (частотном): А - метод непосредственной оценки; Б - метод, основанный на воспроизведении формы импульса излучения |
| 25312-82 |
Преобразователи лазерного излучения измерительные тепловые термоэлектрические. Типы и основные параметры. Методы измерений Настоящий стандарт распространяется на термоэлектрические калориметрические преобразователи, предназначенные для использования в качестве рабочих и образцовых средств измерений энергии импульсного и средней мощности непрерывного лазерного излучения |
| 25368-82 |
Средства измерений максимальной мощности импульсного лазерного излучения. Типы и основные параметры. Методы измерений Настоящий стандарт распространяется на образцовые и рабочие средства измерений максимальной мощности импульсного лазерного излучения и устанавливает их типы, основные параметры и характеристики, а также методы измерения основных параметров и характеристик при изменении параметров исследуемого излучения. Настоящий стандарт не распространяется на измерительные генераторы импульсов оптического излучения |
| 25369-82 |
Фотоэлементы измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров Настоящий стандарт распространяется на фотоэлементы измерительные, предназначенные для использования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений. Настоящий стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляемые как комплектующие изделия для средств измерений |
| 25370-82 |
Фотоумножители измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители измерительные (ФЭУ), предназначенные для использования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений. Настоящий стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляемые как комплектующие изделия для средств измерений |
| 25373-82 |
Лазеры измерительные. Типы, основные параметры и технические требования Настоящий стандарт устанавливает типы, основные параметры и технические требования к измерительным лазерам непрерывного и импульсного режима работы, предназначенным для использования в составе поверочных установок и средств измерения энергетических, спектральных, пространственных и временных параметров лазерного излучения |
| 25677-83 |
Преобразователи импульсного лазерного излучения электронно-оптические измерительные. Основные параметры. Методы измерений Настоящий стандарт распространяется на измерительные электронно-оптические преобразователи (ЭОП), предназначенные для измерения и регистрации параметров импульсного лазерного излучения и других быстро протекающих процессов в ультрафиолетовом, видимом и ближнем инфракрасном диапазонах спектра и устанавливает основные параметры ЭОП и методы их измерений |
| 25678-83 |
Средства измерений энергии импульсного лазерного излучения. Виды. Основные параметры. Методы измерений основных параметров Настоящий стандарт распространяется на средства измерений энергии однократных импульсов лазерного излучения и устанавливает их виды, основные параметры и методы измерений основных параметров при изменении параметров исследуемого излучения в пределах: 0,4-2; 10,6 мкм - рабочие длины воли; 10 в ст. минус 10 - 500 Дж - диапазон значений энергии излучения; 10 в ст. минус 9 - 1 с - длительность импульса излучения. Стандарт не распространяется на измерительные импульсные лазеры |
| 25763-83 |
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные для накачки лазеров. Основные размеры Настоящий стандарт распространяется на трубчатые прямые газоразрядные источники высокоинтенсивного оптического излучения импульсного и нерерывного действия, применяемые для накачки лазеров производственно-технического назначения и изготовляемые для нужд народного хозяйства и экспорта, и устанавливает допустимые сочетания значений типовых внутренних диаметров, расстояний между электродами ламп и присоединительных размеров |
| 25774-83 |
Преобразователи электронно-оптические. Метод определения амплитудно-частотной характеристики Настоящий стандарт распространяется на электронно-оптические преобразователи с электростатической фокусирующей системой, предназначенные для применения в приборах видения, и устанавливает метод определения амплитудно-частотной характеристики |
| 25786-83 |
Лазеры. Методы измерений средней мощности, средней мощности импульса, относительной нестабильности средней мощности лазерного излучения Настоящий стандарт распространяется на лазеры и излучатели лазеров непрерывного и импульсного режимов работы в диапазоне длин волн 0,25-11,8 мкм |
| 25811-83 |
Средства измерений средней мощности лазерного излучения. Типы. Основные параметры. Методы измерений Настоящий стандарт распространяется на рабочие средства измерений средней мощности непрерывного и импульсно-моделированного лазерного излучения с частотой следования импульсов более 2 Гц и длительностью импульса от 10 в ст. минус 11 до 10 в ст. минус 1 |
| 25819-83 |
Лазеры. Методы измерения максимальной мощности импульсного лазерного излучения Настоящий стандарт распространяется на лазеры импульсного режима работы и излучатели к ним и устанавливает два метода измерения максимальной мощности импусльного лазерного излучения: метод прямых измерений максимальной мощности; метод косвенных измерений максимальной мощности |
| 25917-83 |
Лазеры. Методы измерения относительного распределения плотности энергии (мощности) излучения Настоящий стандарт устанавливает два метода измерения относительного распределения плотности энергии или мощности в поперечном сечении лазерного излучения для лазеров непрерывного и импульсного режима работы6 последовательного анализа; матричный метод. Метод последовательного анализа не применим для лазеров, работающих в режиме одиночных импульсов излучения |
| 25918-83 |
Лазеры непрерывного режима работы. Методы измерения нестабильности частоты излучения Настоящий стандарт устанавливает методы измерения характеристик нестабильности частоты излучения одночастотных лазеров непрерывного режима работы в спектральном диапазоне излучаемых длин волн 0,3-350,0 мкм |
| 26086-84 |
Лазеры. Методы измерения диаметра пучка и энергетической расходимости лазерного излучения Настоящий стандарт распространяется на лазеры непрерывного и импульсного режимов работы и устанавливает методы измерения: - диаметра пучка излучения: - метод калиброванных диафрагм, - метод распределения плотности энергии (мощности) лазерного излучения; - энергетической расходимости лазерного излучения: - метод фокального пятна, - метод двух сечений |
| 28601.3-90 |
Система несущих конструкций серии 482,6 мм. Каркасы блочные и частичные вдвижные. Основные размеры Настоящий стандарт устанавливает основные размеры модульного ряда блочных каркасов для их установки в оборудовании, кроме технических средств агрегатной системы вычислительной техники на перестраиваемых структурах, а также основные размеры совместимого ряда вдвижных частичных каркасов и печатных плат |
| 28953-91 |
Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Методы измерения параметров Настоящий стандарт распространяется на фоточувствительные приборы с переносом заряда линейные и матричные (далее-приборы), предназначенные для работы в радиотехнических и телевизионных системах в области спектра от 350 до 1100 нм, и устанавливает методы измерения следующих параметров и характеристик: выходного сигнала; напряжения насыщения и тока насыщения; неравномерности выходного сигнала; интегральной чувствительности; темнового сигнала и неравномерности темнового сигнала; монохроматическо чувствительностий и области спектральной чувствительности; коэффициента передачи модуляции; числа дефектов фоточувствительного поля; среднего квадратического напряжения шума и динамического диапазона; пороговой освещенности и пороговой экспозиции; токов утечки между электродами |
| 29283-92 |
Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 5. Оптоэлектронные приборы Настоящий стандарт устанавливает требования к следующим классам или подклассам приборов: полупроводниковые излучатели, включая: оптоэлектронные полупроводниковые приборы отображения информации (на рассмотрении), светоизлучающие диоды (СИД), инфракрасные излучающие диоды (ИК-диоды), полупроводниковые лазеры (на рассмотрении); полупроводниковые фоточувствительные приборы, включая: фотодиоды, фототранзисторы; фототиристоры (на рассмотрении); фотопары, оптопары. Настоящий стандарт разработан методом прямого применения международного стандарта МЭК 747-5-84 |
| 3518-80 |
Стекло оптическое бесцветное. Метод определения оптической однородности на коллиматорной установке Настоящий стандарт распространяется на оптическое бесцветное стекло в заготовках и деталях и устанавливает метод определения оптической однородности на коллиматорной установке с помощью штриховых мир и точечных диафрагм |
| 3519-91 |
Материалы оптические. Методы определения двулучепреломления Настоящий стандарт распространяется на оптические неорганические материалы: бесцветное, цветное, кварцевое стекло, стекло с особыми свойствами, кристаллы, относящиеся к кубической сингонии, и поликристаллические материалы и устанавливает методы определения двулучепреломления на поляризационном измерительном компенсаторе, полярископе-поляриметре и фазовом поляриметре в видимой области спектра. Стандарт не распространяется на оптические кристаллы, вращающие плоскость поляризации, а также одноосные и двуосные кристаллы в случае распространения излучения в направлениях, отличных от оптических осей и бинормалей |
| 3520-92 |
Материалы оптические. Методы определения показателей ослабления Настоящий стандарт распространяется на оптические материалы: стекло бесцветное и цветное, кварцевое стекло, кристаллические материалы и устанавливает используемые при контроле методы определения спектрального показателя ослабления в области спектра от 0,1 до 25 мкм и показателя ослабления для источника А по ГОСТ 7721 |
| 3521-81 |
Стекло оптическое. Метод определения бессвильности Настоящий стандарт распространяется на оптическое стекло в заготовках, деталях и в виде сырьевого стекла в различных формах исполнения и устанавливает метод определения бессвильности |
| 3522-81 |
Материалы оптические. Метод определения пузырности Настоящий стандарт распространяется на оптические неорганические материалы: бесцветные, цветные и кварцевые стекла, стекла с особыми свойствами, кристаллы и оптические керамику в заготовках, деталях и в виде сырьевого материала |
| 4.431-86 |
Система показателей качества продукции. Приемники излучения фотоэлектрические. Номенклатура показателей Стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества фотоэлектрическиз полупроводниковых приемников излучения и фотоприемных устройств производственно-технического назначения и народного потребления, включаемых в ТЗ на НИР, ТЗ на ОКР, ТУ, КУ |
| 5.2105-73 |
Микроскоп лазерный эллипсометрический ЛЭМ-2. Требования к качеству аттестованной продукции Настоящий стандарт распространяется на лазерный эллипсометрический микроскоп ЛЭМ-2, предназначенный для определения эллипсометрических параметров поляризованного света, определяемых по углам поворота оптических элементов в момент погасания, что позволяет использовать прибор для измерения толщины и показателя преломления прозрачных диэлектрических покрытий на отражающих полированных поверхностях различных материалов и, в частности, на полупроводниковых пластинах, а также для контроля равномерности и однородности диэлектрических пленок по площади и определения наличия и толщины окисла в окнах, вытравленных в процессе изготовления полупроводниковых приборов |
| 50005-92 |
Лазеры и излучатели твердотельные. Методы измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели и устанавливает два метода измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения: А - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на ослаблении энергии (мощности) лазерного излучения; Б - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на концентрации энергии (мощности) лазерного излучения. Минимальный диаметр сечения контролируемой области максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения составляет 100 мкм |
| 50006-92 |
Лазеры и излучатели твердотельные. Метод измерения поляризационных характеристик лазерного излучения Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели импульсного режима с модуляцией добротности и устанавливает метод измерения параметров, определяющих состояние поляризации лазерного излучения: параметров Стокса, степени поляризации лазерного излучения, азимута эллиптически-поляризованного излучения, эллиптичности поляризации |
| 50471-93 |
Излучатели полупроводниковые. Метод измерения угла излучения Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает метод измерения угла излучения. Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 19834.0, термины - по ГОСТ 27299 |
| 50508-93 |
Приборы наблюдательные телескопические. Методы контроля параметров Настоящий стандарт распространяется на оптические наблюдательные телескопические приборы (бинокли, монокуляры, зрительные трубы, охотничьи прицелы) и устанавливает методы измерения и контроля параметров: углового увеличения; диаметра выходного зрачка и его удаления от окуляра; коэффициента пропускания; коэффициента рассеяния; углового поля зрения; сходимости выходящего из окуляра пучка лучей; отклонения от параллельности выходящих из окуляров пучков лучей; межзрачкового расстояния; предела разрешения; угла поворота изображения |
| 50723-94 |
Лазерная безопасность. Общие требования безопасности при разработке и эксплуатации лазерных изделий Настоящий стандарт устанавливает комплект требований по безопасности к лазерным изделиям на стадии проектирования, изготовления, эксплуатации и при сертификации. Стандарт распространяется на лазеры и изделия на основе лазеров |
| 50737-95 |
Затворы лазерные пассивные. Методы измерений и контроля параметров Настоящий стандарт распространяется на пассивные лазерные затворы, предназначенные для модуляции резонаторов и развязки усилительных каскадов твердотельных лазеров. Стандарт устанавливает методы определительных и контрольных измерений параметров при разработке и изготовлении опытных образцов, промышленном производстве и проведении проверок при входном контроле и при анализе состояния элементов лазера в случае его отказа |
| 50964-96 |
Элементы преобразования частоты лазерного излучения. Методы измерения параметров Настоящий стандарт распространяется на элементы преобразования частоты лазерного излучения, используемые в устройствах управления лазерным излучением |
| 51036-97 |
Элементы электрооптические. Методы измерения электрооптических параметров Настоящий стандарт распространяется на электрооптические элементы для модуляторов, дефлекторов, затворов и заготовок из электрооптических кристаллов (далее - элементы). Стандарт устанавливает методы измерения следующих параметров элементов: - статического полуволнового напряжения; - коэффициента контрастности; - коэффициента эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через элемент в минимуме характеристики пропускания; - коэффициента эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через элемент в максимуме характеристики пропускания; - полосы модулирующих частот |
| 51106-97 |
Лазеры инжекционные, излучатели, решетки лазерных диодов, диоды лазерные. Методы измерения параметров Настоящий стандарт распространяется на инжекционные лазеры, излучатели, решетки лазерных диодов, диоды лазерные непрерывного, импульсного и квазинепрерывного режимов работы. Стандарт устанавливает методы измерения следующих параметров лазеров, излучателей, решеток, диодов: средней мощности излучения; длительности и частоты повторения импульсов излучения; средней мощности импульса излучения; энергии импульса излучения; длины волны; ширины линии и ширины огибающей спектра излучения; максимальной (пиковой) мощности импульсного излучения. Настоящий стандарт не распространяется на лазеры, излучатели, решетки, диоды с шириной линии или шириной огибающей спектра менее 0,1 мм |
| 51846-2001 |
Лазеры твердотельные и излучатели твердотельных лазеров для устройств широкого применения. Общие технические условия Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели твердотельных лазеров, предназначенные для использования в устройствах широкого применения |
| 54836-2011 |
Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 13. Измерение для классификации лазерной аппаратуры |
| 54838-2011 |
Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 10. Руководство по применению и пояснительные замечания к МЭК 60825-1 |
| 54840-2011 |
Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 14. Руководство пользователя |
| 54842-2011 |
Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 5. Контрольный перечень к МЭК 60825-1 для изготовителей |
| 60825-1-2013 |
Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 1. Классификация оборудования, требования и руководство для пользователей |
| 60825-12-2013 |
Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 12. Безопасность систем оптической связи в свободном пространстве, используемых для передачи информации |
| 60825-2-2013 |
Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 2. Безопасность волоконно-оптических систем связи |
| 60825-4-2011 |
Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 4. Средства защиты от лазерного излучения |
| 60825-9-2009 |
Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 9. Компиляция максимально допустимой экспозиции некогерентного оптического излучения |
| 60825-9-2013 |
Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 9. Компиляция максимально допустимой экспозиции некогерентного оптического излучения |
| 8.559-94 |
Государственная система обеспечения единства измерений. Лазеры измерительные. Методика поверки Настоящий стандарт распространяется на лазеры непрерывного излучения и устанавливает методику первичной и периодической поверок |
Статистика:
Стандартов: 30976из них:
действующих: 25918
НПБ: 137
СНиПов: в разработке
Обновление:
17.03.2014
Обновлены ГОСТы 02.2014 включительно
Обновлены ГОСТы 02.2014 включительно